設(shè)計(jì)用于各種偏振光檢驗(yàn)：無(wú)論是用于巖相學(xué)、礦物學(xué)、結(jié)構(gòu)特性還是液晶檢驗(yàn)– 新型偏光顯微鏡都能滿足要求的選擇。
 配合各種各樣的選用設(shè)備，徠卡顯微系統(tǒng)有限公司的偏光顯微鏡同樣是工業(yè)應(yīng)用的好伙伴。無(wú)論是用于分析玻璃、塑料、紡織品和纖維還是半導(dǎo)體行業(yè)的測(cè)試顯示，徠卡顯微鏡總是能保證準(zhǔn)確、可靠的結(jié)果。

靈活度變型：
• Leica DM4500 P：用于研究與開(kāi)發(fā)

• Leica DM2500 P：用于日常偏振應(yīng)用

準(zhǔn)確的結(jié)果：
新型Leica 偏光顯微鏡將向您展現(xiàn)顯微?能有多簡(jiǎn)單、多可靠。方便的操作原理使您能改進(jìn)工作流程，把注意力完全集中在手頭的工作上。

不言而喻的優(yōu)點(diǎn)：

• 偏振對(duì)比度提高，能獲得更多的標(biāo)本信息

• 操作簡(jiǎn)單，能在透偏光及落射偏光下對(duì)標(biāo)本進(jìn)行準(zhǔn)確的評(píng)估

• 符合人機(jī)工效性操作原理，工作更輕松

• 可集成相機(jī)和軟件模塊，以便更迅速、更輕松地反復(fù)制作文檔

資料來(lái)源：徠卡儀器有限公司

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