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布魯克電子顯微鏡分析儀 QUANTAX FlatQUAD

QUANTAX FlatQUAD

  1. 產(chǎn)品編號:QUANTAX FlatQUAD
  2. 所屬品牌:布魯克
  3. 產(chǎn)品型號:QUANTAX FlatQUAD
  4. 額定功率:按實際方案提供
  5. 所屬類別:光譜儀(ICP/AAS/FTIR/UV)
  6. 所屬用途:光譜元素分析
  7. 應(yīng)用領(lǐng)域:金屬

產(chǎn)品特性:布魯克電子顯微鏡分析儀 QUANTAX FlatQUADX射線檢測的效率高,SEM 中的納米級分辨率,固體角代表探測器采集樣品產(chǎn)生的 X 射線的幾何收集效率,比傳統(tǒng)的 EDS 探測器快4倍.

021-33587030021-33587020021-34631757

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產(chǎn)品特點 技術(shù)規(guī)格 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

QUANTAX FlatQUAD - SDD 

QUANTAX FlatQUAD 是基于革命性 XFlash® FlatQUAD 的 EDS 分析系統(tǒng)。QUANTAX FlatQUAD 與 ESPRIT 分析軟件套件相結(jié)合,即使是對于困難的EDS樣品,可以提供的面分析性能。

  • 僅使用中等電流就可以進行很快的面分析表征
  • 可以在很低電流(<10pA)下對束流敏感材料進行分析,例如生物或半導(dǎo)體樣品
  • 對具有粗糙表面的樣品進行表征,有效避免陰影效應(yīng)
  • 低kV 和高放大倍率下的納米顆粒和納米結(jié)構(gòu)分析
  • SEM 中測量薄樣品(如 TEM 薄片)和其他 X 射線產(chǎn)量低的樣品的佳選擇

 

限度地提高您的效率

QUANTAX FlatQUAD 與 ESPRIT 軟件套件一起,提供理想的儀器軟硬件,用于分析低電流才穩(wěn)定的敏感樣品或很粗糙的樣品。

XFlash® FlatQUAD還可以將您的 SEM 或 FIB 轉(zhuǎn)換為低電壓的 STEM,以更及時、更經(jīng)濟方式實現(xiàn)高的空間和光譜分辨率。

如果要從電子透明樣品中獲得更多信息,比如晶體學(xué)信息,可以請將 XFlash® FlatQUAD與布魯克 EBSD 改裝的 TKD 探測器結(jié)合使用。

ESPRIT 軟件

服務(wù)體系

Service System

為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說明,還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較,給用戶最中肯的購買建議。

  1. 服務(wù)理念

    服務(wù)理念

    安裝驗收合格后整機保修壹年。在質(zhì)保期內(nèi),我們負責(zé)為用戶的設(shè)備提供免費維護、保養(yǎng)和免費更換損壞的零部件;

  2. 售中服務(wù)

    售中服務(wù)

    為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說明,還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較,給用戶中肯的購買建議。

  3. 售后服務(wù)

    售后服務(wù)

    安裝驗收合格后整機保修壹年。在質(zhì)保期內(nèi),我們負責(zé)為用戶的設(shè)備提供免費維護、保養(yǎng)和免費更換損壞的零部件;