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掃描電鏡透射模式(STEM)的成像原理及應用

提供來源:上海百賀 日期:2017年04月25日

        掃描電子顯微鏡已成為表征物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)不可或缺的儀器。在掃描電鏡中,電子束與試樣的物質(zhì)發(fā)生相互作用,可產(chǎn)生二次電子、特征X射線、背散射電子等多種的信號,在掃描電鏡上配置透射附件,應用透射模式(Scanning transmission electron microscopy,STEM)可得到物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息,使其既有掃描電鏡的功能,又具備透射電鏡的功能,與透射電鏡相比,由于其加速電壓低,所以可顯著減少電子束對樣品的損傷,而且可大大提高圖像的襯度,特別適合于有機高分子、生物等軟材料樣品的透射分析。

        1. 掃描透射像的形成原理

        在掃描電鏡中,電子束與薄樣品相互作用時,會有一部分電子透過樣品,這一部分透射電子也可用來成像,其形成的像就是掃描透射像(STEM像)。如圖1所示,掃描電鏡的STEM圖像跟透射電鏡類似,也分為明場像(bright field,BF)和暗場像(dark field,DF),明場像的探測器安裝在掃描電鏡樣品的正下方,當入射電子束穿過樣品后,散射角度較小的電子經(jīng)過光闌孔選擇后進入明場探測器形成透射明場像,散射角比較大的電子經(jīng)DF-STEM電極板反射,由二次電子探頭接受形成暗場像。由于掃描電鏡中暗場像的信號較弱,在此我們主要討論明場像。

        2. 掃描電鏡中STEM像的特點及應用

        2.1透射像的襯度

        透射電子像的形成主要是入射電子束與樣品發(fā)生相互作用,當電子束穿過樣品逸出下表面時,電子束的強度發(fā)生了變化,從而投影到熒光屏上的強度是不均勻的,這種強度不均勻就形成了透射像。通常以&度(Contrast,C)來描述透射電子所成的像,襯度指樣品電子像上相鄰區(qū)域的電子束強度差,即圖像的對比度。

        電子束被樣品散射后,根據(jù)樣品的性質(zhì)不同,電子束的振幅和相位會發(fā)生相應的改變,形成振幅襯度像和相位襯度像,其中由于樣品的質(zhì)量(原子序數(shù)、密度等)或者厚度的差異造成的透射電子束強度的差異而形成的襯度稱為質(zhì)厚襯度,非晶材料的透射像襯度主要為質(zhì)厚襯度像,如圖2所示,入射電子透過樣品時碰到的原子數(shù)越多即樣品越厚,或者樣品原子核庫侖電場越強即原子序數(shù)或密度越大,被散射的大角度的電子越多,被擋在物鏡光闌之外越多,成像系統(tǒng)接受的電子數(shù)越少,那么襯度高,反之襯度越低。C為質(zhì)厚襯度,NA為阿伏伽德羅常數(shù),e為電子電荷,V為透射電鏡的加速電壓,θ為散射角,Z2,Z1分別為產(chǎn)生襯度的樣品兩部分的原子序數(shù),ρ2,ρ1為兩部分的密度,t2,t1為兩部分的厚度,A2,A1是兩部分的相對原子質(zhì)量。由此可見,質(zhì)厚襯度與加速電壓、散射角、原子序數(shù)、密度和厚度都有關。生物、有機高分子類樣品主要由輕元素組成,原子序數(shù)相差小,對電子的散射幾率小,因此襯度低,通過降低加速電壓的方法可提高襯度。

        2.2掃描電鏡

        透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV),對于有機高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強,形成的透射像襯度低,而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV),因此應用其STEM模式成透射像,可大大提高像的襯度。圖3所示為有機太陽能電池用的高分子/富勒烯薄膜(有機固體實驗室樣品)的透射電子像,在用透射電鏡觀察其分相結(jié)構(gòu)時,由于兩部分襯度都低,因此幾乎無法區(qū)分,而應用掃描電鏡的STEM模式觀察時,可清楚地觀察到兩相的結(jié)構(gòu)。

        應用透射電鏡觀察生物樣品時,由于樣品的襯度很低,須經(jīng)過鈾、鉛等重金 屬染色才能獲得其結(jié)構(gòu)信息,然而染色不僅麻煩而且可能會改變樣品的結(jié)構(gòu)。在 應用掃描電鏡的STEM模式觀察生物樣品時,樣品無需染色直接觀察即可獲得較高襯度的圖像。

        除了可顯著提高透射像的襯度外,應用掃描電鏡STEM成像還有一個優(yōu)勢是可對樣品同時成掃描二次電子像和透射像,既可以得到同一位置的表面形貌信息又可以得到內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息,避免了在掃描電鏡和透射電鏡之間轉(zhuǎn)換樣品、定位樣品的麻煩。圖5所示為應用掃描電鏡觀察有機螺旋納米線(光化學實驗室樣品)得到的二次電子像和透射像(STEM明場像和暗場像),從二次電子像可以清楚地觀察到納米線的螺旋結(jié)構(gòu),從透射像可以看出納米線是實心結(jié)構(gòu)非空心管結(jié)構(gòu)。

        總之,隨著科學研究的深入對于物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的要求越來越高,掃描電鏡STEM透射模式由于其襯度高、損傷小等特點,非常適合于有機高分子、p物等軟材料的結(jié)構(gòu)分析,將在此類材料的分析表征中發(fā)揮不可替代的作用。

(資料來源于網(wǎng)絡-中國科學院化學所分析測試)