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X射線檢查的新標(biāo)桿!多功能X射線檢查設(shè)備

前言

當(dāng)前產(chǎn)品的功能愈加豐富,對(duì)精度要求也逐步提高,所以出貨檢查和故障失效分析的要求也越來(lái)越多樣化。從外觀到內(nèi)部,這些檢查對(duì)于保證產(chǎn)品的確定性和可靠性十分重要。

 

對(duì)從外觀無(wú)法檢測(cè)到的內(nèi)部結(jié)構(gòu)檢測(cè),X射線檢查設(shè)備十分有效。使用X射線輻照檢查對(duì)象,并將結(jié)果進(jìn)行可視化處理,形成圖像,能夠非破壞地進(jìn)行檢測(cè)。

 

與傳統(tǒng)設(shè)備相比,島津新推出的Xslicer SMX-1010 系列微焦點(diǎn)X射線檢查設(shè)備的圖像質(zhì)量和可操作性實(shí)現(xiàn)了顯著提升。

圖1Xslicer SMX-1010外觀圖

優(yōu)勢(shì)

新的HDR過(guò)濾器特性使觀察不同厚度和材料的對(duì)象更容易

•利用新的圖像處理和高分辨率探測(cè)器在寬視野內(nèi)清晰的透視圖像 

•快速和簡(jiǎn)單的三維分析與新的改進(jìn)的CT操作

Xslicer SMX-1010特點(diǎn)

Xslicer SMX-1010主要規(guī)格

表1. 主要規(guī)格

1、能夠獲取高畫質(zhì)圖像的設(shè)備

•搭載150萬(wàn)像素新型X射線檢出器,可獲得高分辨率圖像。 

•標(biāo)配HDR功能。即使工件的厚度與材質(zhì)不同,一次拍攝即可獲得對(duì)比度清晰的圖像,從而提高氣泡等缺陷的可視性。

2、大幅縮短檢查時(shí)間

•操作性能大幅度提升,簡(jiǎn)化從工件更換到觀察的流程。

•可通過(guò)提升檢出器的讀取速度與載物臺(tái)的移動(dòng)速度,大幅削減生產(chǎn)節(jié)拍中的檢查時(shí)間。

3、集3D分析的多樣化功能為一體

•使用選配的CT功能,不僅可進(jìn)行透視檢查,還可進(jìn)行三維分析。較準(zhǔn)作業(yè)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,任何人都可輕松完成CT拍攝。 

•全景拍攝功能,可獲取3200萬(wàn)像素X射線透視圖像,一張圖片即可完成基板等整件大工件的檢查。

Xslicer SMX-1010系列機(jī)拍攝的透視圖

1、HDR高對(duì)比度透視

片式電阻的透視圖像如圖2所示。經(jīng)過(guò)HDR功能處理后,圖像中焊料內(nèi)部的空洞很明顯。

通過(guò)HDR功能處理,可以在同一張圖片中以高對(duì)比度同時(shí)觀察到透明度好和差的部分。

圖2 實(shí)裝板上片式電阻透視圖

左圖:無(wú)HDR效果  右圖:HDR效果

此外,使用鋁線的功率IC的透視圖如圖3所示。周圍的密封樹(shù)脂和鋁線由于比重接近,對(duì)比度低,原本使用X射線不易觀察,但通過(guò)HDR處理,清晰可見(jiàn)。

圖3 功率IC透視圖像——鋁線

左圖:整體圖  右圖:局部放大圖

2、探測(cè)器傾斜的透視觀察

將探測(cè)器傾斜,進(jìn)行透視觀察。圖4為BGA的斜透視圖像,圖5為通孔的斜透視圖像。在BGA的斜透視圖像中,可以看到一個(gè)結(jié)構(gòu)異常的焊球。

圖4 BGA的傾斜透視圖像                 圖5 通孔傾斜透視圖像

3、高分辨率探測(cè)器

在高配機(jī)型中使用300萬(wàn)像素的高分辨率探測(cè)器,可以晰度地觀察產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

圖6為鋁壓鑄件透視圖,圖7為GFRP透視圖。壓鑄件可以清晰地觀察到內(nèi)部砂眼。此外,GFRP可以精細(xì)地觀察纖維的趨向。

圖6 小型鋁壓鑄件透視圖像                                  圖7 GFRP透視圖像

自動(dòng)運(yùn)行功能

自動(dòng)連續(xù)透視拍攝功能(教學(xué)功能和步進(jìn)功能)減輕了作業(yè)員的負(fù)擔(dān),縮短了檢查時(shí)間。下圖是教學(xué)功能示意。圖8為教學(xué)功能檢查結(jié)果畫面和透視圖像。教學(xué)功能是自動(dòng)拍攝預(yù)先登記的檢查點(diǎn)的功能。作業(yè)員可以通過(guò)選擇每個(gè)檢查位置的OK(),NG()和保留(),將有缺陷的點(diǎn)位反饋到制造部門。

圖8-A 教學(xué)功能檢查結(jié)果畫面

8-B  2號(hào)檢查點(diǎn)  8-C  3號(hào)檢查點(diǎn)

8-D  5號(hào)檢查點(diǎn)  8-E  7號(hào)檢查點(diǎn)

選項(xiàng)購(gòu):CT3維分析功能

CT功能可用于觀察復(fù)雜的內(nèi)部結(jié)構(gòu)并解析內(nèi)部缺陷,而透視圖像無(wú)法滿足3維分析的要求。

 

XslicerSMX-1010可通過(guò)加裝CT單元,進(jìn)行三維分析。

 

圖9為QFP封裝IC的三維顯示圖像(左圖)和放大的斷面圖像(右)*1。

圖9 QFP封裝IC

左圖:無(wú)HDR效果  右圖:HDR效果

圖10為USB插頭的三維效果圖像(左圖)和端子的角度測(cè)量結(jié)果(右圖)*1。測(cè)量端子彎曲角度,可以將其與設(shè)計(jì)值進(jìn)行比較。