
資料來(lái)源:賽默飛公眾號(hào)
2019年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)于10月15日-19日在合肥舉辦。屆時(shí),針對(duì)前述需求,賽默飛世爾科技會(huì)分享一系列解決方案,保證讓您眼前一亮。從掃描電鏡(SEM)和透射電鏡(TEM)系列產(chǎn)品到配套的軟件系統(tǒng),賽默飛旨在幫您攻克研究過(guò)程中較為挑戰(zhàn)的難題。無(wú)論是化學(xué)分析、元素分析、機(jī)械分析或電子分析,賽默飛的高分辨率成像和分析工具都將滿足您所有的精度要求。
在即將到來(lái)的電鏡年會(huì)上,我們將進(jìn)行一系列現(xiàn)場(chǎng)演示和展位展示,分享行業(yè)的解決方案。激動(dòng)人心的一周活動(dòng)主要包括:
現(xiàn)場(chǎng)演示
大會(huì)期間,8場(chǎng)演示,讓您深度了解賽默飛新一代電鏡解決方案,包括:Spectra S/TEM, ColorSEM技術(shù), 新一代多源等離子體FIB技術(shù),加裝雙X射線能譜儀的掃描透射電鏡,和生命科學(xué)領(lǐng)域全新自動(dòng)化冷凍透射電鏡、冷凍斷層掃描、單顆粒分析技術(shù)。
午餐講座
為感謝各位顯微工作者的兢業(yè)奉獻(xiàn),我們還將于10月16日-18日每天中午在會(huì)議酒店舉辦午餐會(huì)。屆時(shí),我們將發(fā)布幾個(gè)新的解決方案,其一將有助于加快當(dāng)前的病理認(rèn)知和藥物研發(fā)進(jìn)程,其二將促進(jìn)材料在原子水平上的結(jié)構(gòu)表征,其三是能從電鏡圖像中快速獲取更多數(shù)據(jù)的新方法。請(qǐng)持續(xù)關(guān)注,拭目以待。
展位展示
讓您全方面觸及領(lǐng)域前沿,現(xiàn)場(chǎng)演示將紛至沓來(lái),囊括Amira和Avizo軟件演示等。
全新一代的掃描/透射電子顯微鏡Spectra S/TEM,它可在同一工具中完成原子尺度成像和分析。它為很廣泛的材料提供了易用性,使材料科學(xué)家和半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室研究人員更容易在原子水平上表征各種各樣的結(jié)構(gòu)。
集成元素分析和獨(dú)特的彩色成像。它直接在簡(jiǎn)化的SEM用戶界面(UI)內(nèi)生成實(shí)時(shí)彩色圖像,而無(wú)需切換到傳統(tǒng)的能量色散X射線光譜(EDS)分析或其他用戶界面。
新一代多源等離子體FIB技術(shù)。Helios Hydra與氙一起提供三種額外的離子種類; 氬,氧和氮。單個(gè)離子源,提供多種離子,可在10分鐘或更短的時(shí)間內(nèi)在各個(gè)光源之間進(jìn)行獨(dú)特、輕松的切換。
新一代Krios G4 cryo-TEM冷凍透射電鏡是目前市面上適配標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室高度的自動(dòng)化冷凍透射