FEI掃描電鏡Q25
對(duì)于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是經(jīng)濟(jì)、高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案。在設(shè)計(jì)上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。 

優(yōu)點(diǎn)
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快速輕松表征導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品樣品
制備工作減少化：低真空下可以對(duì)不導(dǎo)電無荷電成像和分析
支持可選的分析功能。利用多級(jí)穿過透鏡的真空系統(tǒng)在高真空和低真空下使導(dǎo)樣品和不導(dǎo)電樣品的EDS分析成為可能。
利用穩(wěn)定的高束流（上至2 μA）電子束可以迅速獲得分析結(jié)果。