The economical choice for innovative research
Park XE7配有Park Systems的所有技術(shù)，而且價格十分親民。與Park Systems的其他型號相比，XE7在細(xì)節(jié)的設(shè)計上也相當(dāng)用心，是幫助您準(zhǔn)時且不超預(yù)算地完成研究的理想之選。

Uncompromised High Performance
在同級產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來納米級分辨率的測量效果。得益于獨特的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量，從而精細(xì)成像和測量樣品的特征。此外，Park所True Non-Contact™模式還能為您帶來的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。

 
For Current and Future Needs
在Park XE7的幫助下，現(xiàn)在與未來皆在您的掌控中。Park XE7帶有業(yè)內(nèi)數(shù)量的測量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來不斷變化的需求。再者，XE7具有市場上開源的設(shè)計，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。

 
Easy to Use and High Productivity
Park XE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學(xué)者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠全力推動研究生產(chǎn)力的提高。

 
Economical Beyond the System Cost
Park XE7不僅僅是經(jīng)濟(jì)實惠的研究級原子力顯微鏡，也是總體成本的原子力顯微鏡。Park XE7中所搭載的True Non-Contact™模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針，并且它配有業(yè)內(nèi)的掃描模式，讓您可隨時升級系統(tǒng)功能，從而延長產(chǎn)品的使用壽命。

Accurate XY Scan by Crosstalk Elimination

Park Systems的串?dāng)_消除(XE)掃描系統(tǒng)能夠有效解決上述問題。我們使用了二維柔性平臺專門掃描樣品的XY軸位置，并通過壓電疊堆傳動裝置專門掃描探針懸臂的Z軸位置。用于XY軸掃描的柔性平臺采用了固體鋁材，其具有正交性和平面外運(yùn)動軌跡。柔性平臺可在XY軸掃描大型樣品（1 kg左右），頻率達(dá)100 Hz左右。由于XY軸的帶寬要求遠(yuǎn)低于Z軸的帶寬要求，因此該掃描速度已然足夠。用于Z軸掃描的壓電疊堆傳動裝置具有大的推拉力和高共振頻率（約10 kHz)。

XE scan system

適用于樣品和探針的獨立XY軸和Z軸柔性掃描器

XY flexure scanner

平直正交的XY軸掃描，殘余彎曲低

XE-Peformence

圖9. (a)表示Park Systems XE系統(tǒng)的背景曲率為零，而(b)是傳統(tǒng)的原子力顯微鏡系統(tǒng)的管式掃描器的典型背景曲率，(c)展示了這些背景曲率的橫截面。

圖9展示了XE系統(tǒng)(a)和傳統(tǒng)原子力顯微鏡(b)掃描硅片時，未處理的成像圖。由于硅片屬于原子級光滑材料，因此圖像中的彎曲大多數(shù)是掃描器所引起的。圖9(c)展示了圖9中(a)(b)圖像的橫截面。由于管式掃描器本身帶有背景曲率，因此當(dāng)X軸的位置移動15 μm時，平面外移動可達(dá)80 nm。而在相同的掃描范圍內(nèi)，XE掃描系統(tǒng)的平面外移動則不超過1 nm。XE掃描系統(tǒng)的另一大優(yōu)勢是Z軸伺服回應(yīng)。圖10是XE掃描系統(tǒng)在無接觸模式下拍下的一個多孔聚合物球體（二乙烯苯）的圖像，其直徑大約為5 µm。探針可以沿著聚合物球體上的大曲率以及小孔平面結(jié)構(gòu)移動，而不會壓碎或粘連在其表面上。圖11是Z軸伺服回應(yīng)在平坦背景上高性能的表現(xiàn)。

Best Life, by True Non-Contact™ Mode
在True Non-Contact™模式中，探針與樣品的距離在相互原子力的控制下，被成功地控制在幾納米之間。探針振動幅度下，大大減少了探針與樣品的接觸，從而完好地保護(hù)了探針和樣品。

True Non-Contact™ Mode

探針磨損更低=高分辨率掃描更長久
避免參數(shù)依賴

Tapping Imaging

探針磨損更快=掃描圖像模糊
破壞性探針-樣品接觸=樣品受損變化
高參數(shù)依賴性

Longer Tip Life and Less Sample Damage
原子力顯微鏡探針十分脆弱，這使得它在接觸樣品后會快速變鈍，從而限制原子力顯微鏡的分辨率和圖像的質(zhì)量。對于材質(zhì)較軟的樣品，探針會破壞樣品，導(dǎo)致其高度測量不準(zhǔn)確。相應(yīng)地，探針保持完整性意味著顯微鏡可以持續(xù)提供高分辨率數(shù)據(jù)。XE系列原子力顯微鏡的非接觸模式能夠程度保護(hù)探針，從而延長其壽命，并減少對于樣品的破壞。下圖中以1:1的長寬比展示了XE系列原子力顯微鏡掃描淺溝道隔離樣品的未處理圖像，該樣品的深度由掃描電子顯微鏡(SEM)確定。在成像20次之后，探針幾乎有沒任何磨損。