產(chǎn)品特性：TESCAN掃描電鏡special products主要特點：內(nèi)置 AFM/SPM,RISE Microscopy,TOF-SIMS & FERA3,EBIC - 電子束感生電流探頭,MIRA3 AMU 定制樣品室,電子束寫入模塊包（EBL)
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可充分利用SEM/ FIB-SEM的快速成像并同時獲得SPM的信息！
飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS)已經(jīng)可以安裝在TESCAN 的LYRA3系列 （鎵離子源FIB-SEM）和新的FERA3（Xe等離子源FIB-SEM）。
TESCAN 在電子束感應電流/電阻(EBIC)的測量和面掃中加了一種新的方式。完全內(nèi)置的EBIC探頭，可以快速便捷的實現(xiàn)所有軟件允許的應用功能。而且TESCAN 使用了納米探針作為新的EBIC探頭的連接方式。創(chuàng)新的方式使得3維EBIC分析成為了現(xiàn)實。
TESCAN公司提供可定制的超大等級的樣品室。
電子束寫入模塊（EBL) 是一款技術已經(jīng)成熟的配件，它可以在納米級別上對指定的結(jié)構(gòu)進行調(diào)整或修改。
為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說明，還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較，給用戶最中肯的購買建議。
安裝驗收合格后整機保修壹年。在質(zhì)保期內(nèi)，我們負責為用戶的設備提供免費維護、保養(yǎng)和免費更換損壞的零部件；
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