FEI掃描電鏡Prisma E材料科學(xué)SEM可直觀的觀察到隔膜的孔形貌、造孔均勻性及制備工藝，掃描電鏡
可反映出隔膜的造孔不均、拉伸斷裂、涂覆不均等問題。

新型Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將各種成像和分析模式與新的自動化相結(jié)合，為同類儀器提供完整的解決方案。

它非常適用于需要高分辨率，樣品靈活和易于使用的操作界面的工業(yè)研發(fā)，質(zhì)量控制和故障分析應(yīng)用。Prisma E成功獲得了為成功的Quanta SEM。