產(chǎn)品特性：X射線衍射儀 XRD-7000分析方法可實(shí)現(xiàn)無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強(qiáng)度,衍射峰線形等信息可以進(jìn)行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征,如:點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)定,晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計(jì)算,宏觀殘余應(yīng)力測(cè)定,結(jié)晶度計(jì)算等;X射線衍射分析方法是材料微觀結(jié)構(gòu)表征Z常規(guī)和Z有效的方法之一.
021-33587030021-33587020021-34631757
電話咨詢
X射線衍射儀 XRD-7000可在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等。并且，可通過峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。
配備具有0.0001°zui小步進(jìn)的高精度樣品水平型測(cè)角儀。根據(jù)分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（zui大350mmφ樣品）和通用的S型。
XRD-7000系列配備了樣品水平型測(cè)角儀，能夠測(cè)定超大型樣品。
· 不但可進(jìn)行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、結(jié)晶度的計(jì)算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計(jì)算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測(cè)定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測(cè)定等。
利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺(tái)，可以進(jìn)行zui大350mmφ樣品全表面的自動(dòng)應(yīng)力成圖測(cè)定。
為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說明，還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較，給用戶最中肯的購(gòu)買建議。
安裝驗(yàn)收合格后整機(jī)保修壹年。在質(zhì)保期內(nèi)，我們負(fù)責(zé)為用戶的設(shè)備提供免費(fèi)維護(hù)、保養(yǎng)和免費(fèi)更換損壞的零部件；
為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說明，還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較，給用戶中肯的購(gòu)買建議。
安裝驗(yàn)收合格后整機(jī)保修壹年。在質(zhì)保期內(nèi)，我們負(fù)責(zé)為用戶的設(shè)備提供免費(fèi)維護(hù)、保養(yǎng)和免費(fèi)更換損壞的零部件；
