具有細管徑技術的EDS，適合您的 SEM、FIB 和 EPMA

再一次，布魯克為掃描電子顯微鏡的能量分散光譜設定了性能和功能標準。新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash^® 6探測器系列，探測器的有效面積為 10 至 100 mm^2。

第 6 代 EDS 提供硬件和軟件技術，以實現(xiàn)很快、可靠的結(jié)果：

節(jié)省時間 - 擁有細管徑技術的新型探測器、大面積硅漂移探測器、可控制多個探測器以及具有高性能的脈沖處理器，更快地完成工作

節(jié)省工作量 - 電動馬達控制探測器移動和迷你輕質(zhì)的設計，讓探測器使用起來更加輕松

獲得更高的精度 - 能量分辨率提供質(zhì)量的譜圖，非常適合用于準確分析

獲得更棒的可靠性 - 世界上全方面的原子數(shù)據(jù)庫確?？煽康牡湍芰糠逯底R別

獲得更高的精度 - 定量算法、基于標樣的定量方法和獨特的有標樣和無標樣定量組合提供精度的定量結(jié)果

提升元素分析效率！

布魯克 EDS 可與每一款電子顯微鏡適配的安裝、并提供速度和精度，這使得布魯克 EDS 為任何實驗室提供了大的 EDS 系統(tǒng)。此系統(tǒng)包括光譜成像，使微納米分析不再是一個挑戰(zhàn)。

XFlash^® 系列還為 TEM 和 STEM 提供優(yōu)化解決方案，以及獨特的XFlash^® FlatQUAD，一種用于困難樣品表征的探測器。

此外，EDS 可以與 EBSD、Micro-XRF 和 WDS 的無縫集成一款軟件中，布魯克的 ESPRIT 為任何 SEM、FIB 和 EPMA 提供了全方面的分析平臺。