鍵合絲塌絲觸及器件內(nèi)部裸露的導(dǎo)體即造成短路失效。引起鍵合絲塌絲的原因很多，有些是因?yàn)殒I合絲的長短控制不當(dāng)引起的，有些是因?yàn)殒I合絲走向不合適導(dǎo)致的，還有些是因?yàn)殒I合之后人為失誤造成的。由于鍵合絲搭接處于一種不穩(wěn)定狀態(tài)，有時(shí)器件的失效現(xiàn)象很難復(fù)現(xiàn)，給失效分析工作帶來困難，下面的案例充分說明了這一點(diǎn)。

      某型號隔離放大器隨整機(jī)進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，發(fā)生失效。常溫下，對失效器件進(jìn)行綜合電性能測試，結(jié)果為合格。

      之后，分別進(jìn)行低溫（-18 ℃，保溫0.5 h后持續(xù)加電20 min）、高溫（+60 ℃環(huán)境下，持續(xù)加電20 min）、常溫（持續(xù)加電20 min） 測試，器件功能正常。

      又對器件進(jìn)行5次溫沖試驗(yàn)（-55 ℃，125 ℃，0.5 h保溫，轉(zhuǎn)換時(shí)間小于1 min）后，常溫持續(xù)加電20分鐘測試，高溫（+85 ℃環(huán)境下，持續(xù)加電50 min）測試，以及恒定加速度試驗(yàn)（條件為：3 000 g、Y1方向，1 min）后，常溫持續(xù)加電20 min測試，結(jié)果均為合格。

      將失效件返生產(chǎn)廠家進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。進(jìn)行兩次不加電振動(dòng)試驗(yàn)，X、Y、Z方向各5 min。在每個(gè)方向的振動(dòng)完成后，對器件加電5~10 min進(jìn)行測試，結(jié)果為合格。

      第二次振動(dòng)試驗(yàn)功率譜密度（PSD）比第一次增加50 %，X、Y、Z方向各5 min。同樣在每個(gè)方向的振動(dòng)完成后，對器件加電5~10 min進(jìn)行測試，結(jié)果為合格。

      之后再對失效樣品按第二次振動(dòng)條件進(jìn)行加電振動(dòng)試驗(yàn)。進(jìn)行Z向（器件較長邊方向）振動(dòng)，剛剛起振，樣品的正負(fù)隔離電壓輸出異常。停止振動(dòng)并斷電，重新加電后測試也正常。

      以上試驗(yàn)結(jié)果表明，振動(dòng)試驗(yàn)可以激勵(lì)器件故障復(fù)現(xiàn)。將樣品從振動(dòng)臺(tái)上取下，再次進(jìn)行加電測試，樣品的正負(fù)隔離電壓不正常。說明器件故障現(xiàn)象已處于穩(wěn)定狀態(tài)。

      接下來對器件進(jìn)行X射線檢查，發(fā)現(xiàn)器件內(nèi)部管腳31鍵合金絲與附近獨(dú)石電容端頭間無明顯間隙（如圖8所示）。開封器件，通過顯微鏡觀察發(fā)現(xiàn)，器件內(nèi)部+15 V電源（Pin 31）鍵合金絲與附近獨(dú)石電容一端頭搭接（如圖9所示）。從圖中可以看出，該鍵合絲明顯過長。

隔離放大器失效機(jī)理為：器件內(nèi)部管腳31（+15 V）鍵合金絲與附近獨(dú)石電容一端頭搭接，造成+15 V電源跳過限流電阻，直接加在內(nèi)部振蕩器芯片的正電源，導(dǎo)致器件內(nèi)部振蕩器不能正常供電，產(chǎn)品功耗變大，隔離電壓降低，導(dǎo)致器件無輸出。