微分干涉襯度顯微技術(shù)（簡稱DIC）是一種觀察具有微小高度差的形貌的光學(xué)顯微技術(shù)，這項(xiàng)技術(shù)將顯微鏡的垂直分辨率提高到納米級。它和相襯技術(shù)相似，都是將試樣表面微小高度差造成的光程差轉(zhuǎn)變?yōu)槿搜奂案泄獠牧纤芨惺艿絥強(qiáng)度差，從而提高了顯微組織細(xì)節(jié)間的襯度，便于識別，但是其原理有所不同。由于此項(xiàng)技術(shù)使被觀察試樣組織有很強(qiáng)的立體感和鮮艷的色彩，因此在金相學(xué)、晶體學(xué)、集成電路、陶瓷和高分子材料、生物和醫(yī)學(xué)等許多領(lǐng)域發(fā)揮了重大作用。