徠卡激光共聚焦顯微鏡DCM8用于無(wú)損三維表面輪廓形成,融合了共聚焦和干涉光學(xué)測(cè)量?jī)x,用于高橫向分辨率和干涉法的高清晰度共聚焦顯微鏡,可獲得亞納米級(jí)的垂直分辨率.在各種不同的研究和產(chǎn)品環(huán)境下,進(jìn)行材料和零部件的表面分析都非常重要.由帶有高坡區(qū)域的錯(cuò)綜復(fù)雜的結(jié)構(gòu)制成的表面,要求數(shù)微米的橫向分辨率.
日本三豐公司助力軸承行業(yè)高品質(zhì)制造,提供三豐圓柱度儀,表面粗糙度儀,輪廓度儀,三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,影像測(cè)量?jī)x,洛氏硬度計(jì)等測(cè)量方案.
對(duì)于大多數(shù)金屬材料，在彈性變形區(qū)域，應(yīng)力與應(yīng)變成比例，當(dāng)繼續(xù)增加應(yīng)力或應(yīng)變時(shí)，在某一點(diǎn)上，應(yīng)變將不再與施加的應(yīng)力成比例。 在這一點(diǎn)上，與鄰接的初始原子間的...
試樣制備技術(shù)在電子顯微術(shù)中占有重要的地位，它直接關(guān)系到電子顯微圖像的觀察效果和對(duì)圖像的正確解釋。而得到一個(gè)盡可能無(wú)變形的平表面才能迅速而容易地進(jìn)行下一步制樣。
掃描電子顯微鏡（SEM）廣泛應(yīng)用于材料、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)、生物、考古、石油、刑偵、造紙、紡織等研究領(lǐng)域。由于操作方便，制樣簡(jiǎn)單，景深大，成像富有立體感，SEM已成為表面分析...
在金相檢測(cè)及材料分析領(lǐng)域，在樣品的制備過(guò)程中，經(jīng)常會(huì)遇到一些特別容易發(fā)生變形/流變的金屬，例如：純鋁（部分低硬度鋁合金）、純銅（部分低硬度銅合金）、貴重金屬（金、銀等）、低熔點(diǎn)金屬（錫、鉛）、難熔金屬（鈦、鉻、鉬等）、高溫合金等，這類(lèi)金屬樣品的制備需要花費(fèi)大量的時(shí)間，制備完成后是否能滿(mǎn)足測(cè)試、分析要求也一直是金相工程師或技術(shù)人員棘手的問(wèn)題。
當(dāng)構(gòu)件的某個(gè)點(diǎn)在承受足夠大擾動(dòng)應(yīng)力，經(jīng)過(guò)足夠多的循環(huán)后會(huì)形成裂紋，這一現(xiàn)像被稱(chēng)為疲勞。疲勞斷裂是工程結(jié)構(gòu)和部件失效的主要原因。
從1956年到如今，我們?yōu)榍в嗝麌?guó)際及本土聽(tīng)寶貴的建議從中積累豐富的經(jīng)驗(yàn)。
